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    72DL 超薄材料測厚

    發布時間:2024-06-04

    一、 檢測對象 試塊材質為高分子材料,其他背景客戶未告知。

    二、 實驗設備 ? 主機:奧林巴斯測厚儀 72DL ? 探頭:M2104 ? 耦合劑

    三、 實驗數據 1. 一號試塊:0.05mm。  2、二號試塊:0.025mm。3、三號試塊:0.015mm。

    四、實驗結論 采用奧林巴斯超聲測厚儀 72DL 配合高頻 M2104 探頭,可以滿足 0.015mm 厚度測量。